所報 104

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－　　－23Published PaperA Low Capture Power Test Generation Method Based on Capture Safe Test Vector ManipulationToshinori HOSOKAWA, Atsushi HIRAI, Yukari YAMAUCHI, and Masayuki ARAIIn at-speed scan testing, capture power is a serious problem because the high power dissipation that can occur when the response for a test vector is captured by flip-flops results in excessive voltage drops, known as IR-drops, which may cause significant capture-induced yield loss. In low capture power test generation, the test vectors that violate capture power constraints in an initial test set are defined as capture-unsafe test vectors, while faults that are detected solely by capture-unsafe test vectors are defined as unsafe faults. It is necessary to regenerate the test vectors used to detect unsafe faults in order to prevent unnecessary yield losses. In this paper, we propose a new low-capture-power test gen-eration method for transition faults based on launch-on-capture scheme. This method mimics capture-safe test vectors which have low launch switching activity in the initial test set, and uses fault simulation. In the proposed test generation method, new test vectors to detect unsafe faults are generated using the fault propagation path information of the capture safe test vectors. This simulation-based approach reduces the test generation time, and the simplicity of the proposed algorithm facilitates simple implementation. Experimental results show that the use of this method reduces the number of unsafe faults by 94% while requiring just 18% more additional test vectors on average, and while requiring less test generation time compared with the conventional low capture power test generation method. Keywords: low power, test generation, capture safe test vectors, test vector synthesis, unsafe faultsキャプチャセーフテストベクトル操作に基づく低キャプチャ消費電力テスト生成法　実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ動作時の過度な電力消費は回路の熱破壊やIRドロップによる誤テストといった深刻な問題を引き起こし，歩留り損失の原因のひとつにあげられる．したがって，キャプチャ消費電力が閾値を超えるようなテストベクトルは，不必要な歩留り損失につながるためテストに使用できない．そのため，テスト生成時にキャプチャ消費電力を考慮する必要がある．本論文では初期テスト集合中の低キャプチャ電力テストベクトルを利用した故障シミュレーションベースの低キャプチャ電力テスト生成手法を提案する．この方法は，初期テスト集合中の信号線遷移が少ないキャプチャセーフテストベクトルを模倣し，故障シミュレーションを用いたものである．提案法では、キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路情報を用いて，アンセーフ故障を検出するための新しいテストベクトルを生成する．提案手法では，シンプルなアルゴリズムで高速に低キャプチャ電力テスト集合を生成する．ISCAS’89， ITC’99ベンチマーク回路を用いた実験では，初期テスト集合に18%の新しいテストベクトルを追加して，従来の低キャプチャ電力テスト生成手法と比較して，アンセーフ故障数を平均94%削減したことを示す．キーワード： 低消費電力，テスト生成，キャプチャセーフテストベクトル，テストベクトル合成， アンセーフ故障Journal （掲載誌）IEICE on Information and Systems, Vol.E100-D (9), 2118-2125, Sept 2017.